DRAM测试方法

Full ATEs

工业标准

高初始成本,高维护成本

需要应用程序测试来补充整个过程

FPGA Based Tester

低成本,易于使用,易于使用

部分ATE功能,

应用程序关联性差

By Applications, e.g., PC Motherboard

特定应用>>优选用于高度针对性的测试

缺乏算法,边距,温度控制

SyncMAX采用3合1方法



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